Найдено разработок: 88
Акустико-эмиссионная система "ЭЯ-IV"
Назначение:Акустико-эмиссионная система мониторинга ЭЯ-IV предназначена для сопровождения длительных испытаний на ресурс и надёжность (испытаний на усталость, испытаний трибологических узлов...
Акустико-эмиссионная система "ЭЯ-2"
Назначение:Акустико-эмиссионная система ЭЯ-2 предназначена для автоматизации проведения экспериментов и испытаний с регистрацией акустической эмиссии в области:- физика прочности и...
АС ТОР. Система технического обслуживания и ремонта кораблей
Система технического обслуживания и ремонта кораблей (ТО и Р) – совокупность взаимосвязанных средств, документации технического обслуживания и ремонта и исполнителей, необходимых для...
SmartExpo - IT-платформа для выставочных мероприятий
SmartExpo - это IT-платформа для выставочных мероприятийПлатформа включает:готовый сайтмобильное приложение для всех платформсистему управления контентомВ состав программного продукта входит более...
​SmartMonitor - решение для организации централизованного мониторинга сети и информационных ресурсов (сервисов) в корпоративных сетях и сетях сотовых операторов, в режиме on-line​
SmartMonitor предоставляет детальную информацию по каждому контролируемому устройству, и позволит оценивать измеримые параметры деятельности сети и серверов (сервисов), отслеживать нарушение...
Получение спектров пропускания в видимом диапазоне
качественное исследование состава жидких и твердых материалов по спектрам в диапазоне от 190 до 1100 нм; количественное исследование состава жидких и твердых материалов по спектрам в диапазоне от 190...
Классификация: Материалы
Определение коэффициента пропускания пленок и покрытий. Получение спектра диффузного отражения
качественное исследование состава жидких материалов по спектрам пропускания (поглощения); качественное исследование состава твердых пленочных материалов по спектрам зеркального...
Классификация: Материалы
Измерение толщины и показателя преломления пленок
измерение толщины одно- и многослойных пленок и пленочных структур (металлов, диэлектриков и полупроводников);измерение коэффициента преломления пленочных материалов;измерение показателя...
Классификация: Материалы
Элементный анализ для твердых тел
Качественный элементный анализ;Изотопный анализ;Количественный анализ при наличии стандартного образца. Высокая чувствительность.Возможность быстрого получения спектра во всем диапазоне...
Классификация: Материалы
Измерение концентрации носителей заряда в подложке
Измерение концентрации носителей заряда в полупроводниках IV группы (Si, Ge, SiC), AIIIBV, AIIBVI, третичных III-V и пр. Построение графика зависимости концентрации от глубины травления с шагом от 5нм и выше....